METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Nuovi campioni primari di Frequenza / A., Godone; Levi, Filippo; L., Lorini; Calonico, Davide. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - 11:(1999). 1999 LEVI, FILIPPOCALONICO, DAVIDE + -
Riferibilità e incertezza nella misura di campi elettromagnetici / Anglesio, L; Crotti, Gabriella; Borsero, Michele; Vizio, G.. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - 11:(1999), pp. 4-12. 1999 CROTTI, GABRIELLABORSERO, MICHELE + -
Ruolo delle grandezze elettriche nella metrologia meccanica e termica / Bertinetto, F; Marcarino, P; Pisani, Marco; Rebaglia, B.. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - (1999). 1999 PISANI, MARCO + -
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